【アジア】日立ハイテク　台湾大学と電子顕微鏡の共用施設を開設

日立ハイテクは台湾大学内に電子顕微鏡の共用施設「Ａｄｖａｎｃｅｄ　Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ　Ｉｎｎｏｖａｔｉｏｎ　Ｃｅｎｔｅｒ　ｆｏｒ　Ｆｏｃｕｓｅｄ　Ｉｏｎ　Ｂｅａｍ　Ｓｙｓｔｅｍ」を共同で開設した。同施設は、半導体をはじめとした先端材料およびグリーン材料の設計や研究開発を主な目的とし、日立ハイテクのＦＩＢ（＊１）－ＳＥＭ（＊２）を台湾大学の関係者を中心に幅広いユーザーが活用できる施設として運営する。

日立ハイテクは装置の維持・管理やアプリケーション面などのサポート体制を構築し、本センターのスムーズな運営を支えていく。また今後はＦＩＢ－ＳＥＭを通じた技術情報の発信など、さらなる施設の活用もめざす。

台湾大学と同施設を共同運営することで、産学連携の強化、技術革新力の強化、科学技術分野における将来の人財育成プラットフォームの提供などにより、台湾の科学技術の発展と経済の繁栄に貢献する。

＊１　ＦＩＢ　（Ｆｏｃｕｓｅｄ　Ｉｏｎ　Ｂｅａｍ）

集束イオンビーム

＊２　ＳＥＭ　（Ｓｃａｎｎｉｎｇ　Ｅｌｅｃｔｒｏｎ　Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）

走査電子顕微鏡

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